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Viga's View : CPO 量產最大隱形瓶頸:為何「測得快」比「對得準」更致命?

作家相片: Rachel Huang
Rachel Huang
5天前
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矽光子(CPO)狂潮下的隱形魔鬼

隨著生成式AI 與高效能運算(HPC)需求爆發,傳統電傳輸在帶寬與耗電量上已面臨物理極限。全球半導體與光電產業紛紛將焦點轉向共封裝光學(Co-Packaged Optics, CPO)技術,期盼透過將光引擎(Optical Engine)與交換或運算晶片整合封裝於同一基板上,徹底突破算力瓶頸。然而,當業界普遍關注光電封裝技術的突破時,一個決定CPO 能否從實驗室走走向商業化大批量產的隱形魔鬼,正藏在後端的「測試」環節。

許多產業觀察者常產生疑問:既然最棘手的光電封裝與微米級晶片疊加技術都已跨越,為何「測試」會成為產業大規模量產時最昂貴且致命的瓶頸?

事實上,CPO 測試正在經歷一場根本性的範疇轉移——測試的關鍵目標正從物理上的光學精密對準(對得準),轉向總測試成本(Cost of Test, CoT)與產能吞吐量的極限壓縮(測得快)。這篇文章將深入拆解CPO 矽光子測試供應鏈的四大震撼洞察,解析產業如何透過整合Test Cell(測試單元)平台,迎接2028 年大規模量產前的關鍵決戰。


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